rC3: Stresstest führt zu vielen iPhone-Abstürzen from Heise's blog

Die Sicherheitsforscherin Jiska Classen hat iPhone-Chips mit Fuzzing-Werkzeugen auf den Zahn gefühlt. Die Smartphones hinterließen einen verwirrten Eindruck.


Source: https://www.heise.de/news/rC3-Stresstest-fuehrt-zu-vielen-iPhone-Abstuerzen-5000647.html?wt_mc=rss.red.ho.ho.rdf.beitrag.beitrag


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By Heise
Added Dec 29 '20, 03:00PM

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